歸納夾雜物的鑒定技術，可分為兩類。第一類是在位鑒定檢查。在位鑒定檢查是在夾雜物和鋼的基體不分離情況下追行檢查，它又可分為宏觀在位檢查和微觀在位檢查。
宏觀在位檢查有：低倍酸浸、硫印、X 光投射、超聲波檢查等。這些方法可以確定夾雜（或者缺陷）在鋼材或工件中的位置、尺寸和分布。根據(jù)這些檢查的結果可以評價工藝因素對鋼清潔度的影響，可以發(fā)現(xiàn)肉眼難于發(fā)現(xiàn)的夾雜缺陷，防患于未然，避免繼續(xù)加工或投入使用，造成不應有的危害和損失。但是宏觀在位檢查往往不能確定夾雜物的類型和組成。
微觀在位檢查彌補了這方面的不足。典型的微觀在位檢查是用顯微鏡鑒定鋼中的缺陷或夾雜物。顯微鏡鑒定法已有很長的歷史。不少鋼的清潔度都是鏡下判定的。用顯微鏡可檢查夾雜物的許多光學特征，如透明度、色澤、偏光效應、耐磨性和耐侵蝕性等。人們根據(jù)這些特征來推斷夾雜物的類型和組成。但是，由于它不是直接分析，即使是有經驗的內行也難免有時誤判。隨著X光顯微鏡分析技術的發(fā)展，使微觀在位分析產生了飛躍。只要鏡下觀察到的夾雜物，就比較容易確定其元素組成；根據(jù)元素組成又可推斷夾雜物的礦物結構。
另一類鑒定方法是移位檢查鑒定。在位檢查鑒定有很多優(yōu)點，生產上應用很廣。但在位鑒定不能確定夾雜物的平均組成。夾雜物的移位鑒定彌補了這方面的不足。常用的移位分析法有酸法、鹵素法、電解法等，尤其是以電解法最為安全方便，便于分析夾雜物的數(shù)量、粒度和組成。移位鑒定分析可以避免基體對分析的干擾；但處理不當時，會損害夾雜物的形貌。選擇性恒電位侵蝕法，是吸收了移位分析法優(yōu)點的在位分析法，它的具體做法是選擇適當?shù)碾娊庖?，用恒電位法使夾雜物和鋼基體分離，但不移動位置，然后用掃描電鏡能譜儀對孤立出來的夾雜物進行分析。這種分析方法既排除了基體對分析的打擾，又保持了夾雜物在鋼中的原始位置，但不能分析夾雜物的平均組成。
——本文摘自論文文獻綜述
冀公網安備13050002001422號